据闪德资讯获悉,3D NAND闪存技术通过垂直堆叠单元来增加存储容量,目前商用产品层数已超300层,业界计划到2030年实现1000层或更高层数。
随着单元堆叠技术越发复杂,将面临诸多物理限制,如工艺复杂性与制造成本增加,单元间电气干扰以及数据保留特性下降等问题。
其中“Z-Pitch Scaling”是关键技术,但可能导致电气性能下降,还会带来阈值电压降低、编程/擦除电压升高、数据存不久等问题,直接影响3D NAND可靠性和生产良率。
为了解决这些问题,研究机构IMEC开发了两种新技术:气隙集成和电荷陷阱层分离。
这两种技术达成互补作用:一个解决单元间干扰,一个解决电荷扩散。
两者结合后可为1000层以上3D NAND打下基础,能够堆叠更多层数的同时,还能保持性能和可靠性。
高密度3D NAND技术将成为满足云计算、AI和边缘设备快速增长的大规模数据处理需求的关键基础设施。
闪德资讯,一个聚焦关注存储产业供应链和趋势变化的垂直媒体。