EBSD分析的样品制备与数据处理
在材料科学领域,电子背散射衍射(EBSD)技术是一种强大的工具,它能够提供材料微观结构的详细信息。为了确保EBSD分析的准确性和有效性,样品的制备和数据的采集与处理至关重要。
样品制备的重要性
EBSD分析要求样品表面达到一定的质量标准,以确保能够获得清晰的衍射图案。理想的样品应符合以下要求:
1.表面平整性:样品表面必须平整,以确保电子束能够均匀地与样品相互作用。金鉴实验室提供专业的样品制备服务,确保样品达到最佳的表面质量,从而提高EBSD测试的准确性。
2.晶界保护:在制备过程中,应避免对晶粒之间的晶界造成破坏,因为晶界对材料的性能有重要影响。
3.无应力层:样品表面应避免存在应力层,这可能会影响电子的散射行为,从而影响分析结果。
样品制备技术
CP截面抛光仪制样广泛,可用于各种材料样品(除了液态)的制备,适应大多数材料类型,对大面积、表面或辐照及能量敏感样品尤佳,有钢铁、地质、油页岩、 锂离子电池、光伏材料、陶瓷、金属(氧化物,合金)、高分子,聚合物、薄膜、半导体、EBSD样品、生物材料等包括平面抛光与截面抛光。
1. 机械抛光:
适用于多种材料,包括绝缘体、矿物和金属。
通过金刚石砂纸打磨和胶质硅抛光,使样品表面达到所需的光滑度。
尽管这种方法操作简便,但可能会在样品表面引入残余应力,影响EBSD分析。
2. 电解抛光:
特别适合金属样品,能够获得高质量的表面,有利于获取清晰的菊池花样。
这种方法能够减少表面应力,但需要精确控制抛光液的配方和抛光参数。
EBSD数据采集与处理
在采集EBSD数据前,金鉴实验室技术人员能够根据具体分析需求,对相机参数进行优化,以提高衍射图案的清晰度。
相机参数优化
1.参数选择:根据分析目标,选择适当的相机参数,以平衡图案清晰度和采集时间。
2.信号调节:调整增益或曝光时间,确保信号处于最佳水平,以提高图案质量。
3.背底扣除:通过扣除背底,改善图案的对比度和清晰度,从而提高自动标定的成功率。
菊池带的采集
首先采集SEM图像,确定感兴趣的区域,并预览EBSD花样。
在数据库中选择相应的物相,为花样标定提供必要的晶体学信息。
根据晶粒尺寸和分析需求,选择合适的扫描步长和区域,进行EBSD花样的采集。
标定流程
1.取点:在样品表面上选择适当的点进行数据采集。
2.采集花样:获取电子背散射衍射图案。金鉴实验室专业团队会对采集到的图像进行细致处理,确保菊池带的识别准确无误。
图像处理:对采集到的图像进行处理,识别菊池带。
数据库对比:将处理后的图案与数据库中的晶体学信息进行对比。
校对结果:对自动标定的结果进行校对,确保准确性。
输出结果:输出物相和晶体取向的结果。
EBSD技术的应用领域
EBSD技术在材料科学中的应用非常广泛,它可以用来进行多种分析,包括:
1.织构分析:研究材料的晶体学特征,如晶体取向和织构。
2.晶粒尺寸分布:分析晶粒的形状和尺寸,了解材料的微观结构。
3.晶界性质:研究晶界的性质,如晶界的类型和分布,这对材料的力学性能有重要影响。
3.形变与再结晶:分析材料在加工过程中的形变和再结晶行为。
4.物相鉴定:识别材料中的不同物相,以及它们的相对含量。
5.两相取向关系:分析不同物相之间的晶体学关系,这对于理解材料的性能至关重要。
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