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芯片测试稳控接触精准无漂移:芯片测试座是如解决电阻不稳的?

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德诺嘉IC测试座
发布2025-11-19 14:15:44
发布2025-11-19 14:15:44
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概述
芯片测试座作为连接芯片与测试系统的“桥梁”,其探针接触类型、核心材料选型及整体结构设计,是解决上述问题的关键。德诺嘉电子深耕芯片测试座定制领域,以科学的接触设计、优质的材料应用与稳定的结构方案,从根源上保障接触电阻稳定,杜绝测试结果漂移,成为芯片测试精准性的核心保障。

原创声明:本文系作者授权腾讯云开发者社区发表,未经许可,不得转载。

如有侵权,请联系 cloudcommunity@tencent.com 删除。

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