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ICsocketgirl

LV5

发表了视频 20天前2026-01-15 10:48:47

8分30秒

电源管理芯片:LDO-DC/AC-BMS-驱动-开关电源等芯片适配测试座

2026-01-15

发表了视频 23天前2026-01-13 09:46:34

7分25秒

处理器芯片封装测试:特性-测试类型-鸿怡适配处理器芯片测试座socket

2026-01-13

发表了视频 28天前2026-01-08 10:10:10

9分13秒

液冷赋能AI芯片/模块老化测试的技术-高算力芯片水冷测试治具实践-鸿怡AI处理器芯片水冷测试治具

2026-01-08

发表了文章 28天前2026-01-07 10:47:27

液冷赋能下AI芯片/模块老化测试的技术突破与适配测试治具实践

人工智能技术的迅猛发展，AI芯片/模块朝着超高集成度、超高算力方向迭代，其可靠性验证成为产业链核心环节。老化测试作为筛选早期失效器件、保障长期稳定运行的关键手段...

ICsocketgirl 28天前2026-01-07 10:47:27

发表了视频 30天前2026-01-06 09:56:17

8分29秒

霍尔效应线性电流传感器特性-测试适配测试座socket-鸿怡电子电流传感器芯片测试方案

2026-01-06

发表了视频 2025-12-302025-12-30 09:48:34

9分10秒

电源模块特性及老化测试和老化测试座的必要关联-鸿怡电源IC老练测试夹具

2025-12-30

发表了视频 2025-12-232025-12-23 10:27:24

5分4秒

通信芯片:无线射频收发芯片测试解析及LCC34封装测试座应用

2025-12-23

发表了视频 2025-12-112025-12-11 10:32:08

5分53秒

高频信号芯片测试“稳定之桥”:鸿怡芯片测试座的性能保障与关键应用

2025-12-11

发表了视频 2025-12-092025-12-09 10:11:47

4分42秒

IC/芯片测试座已实现99.99%国产替代-专注芯片测试座自主创新标杆-鸿怡HMILU

2025-12-09

发表了视频 2025-12-042025-12-04 10:36:28

9分2秒

光电性能的核心标尺:CIS的QE与FWC测试与鸿怡光电芯片/模块测试座应用

2025-12-04

发表了视频 2025-12-022025-12-02 10:07:22

8分50秒

环境应力下的品质淬炼：芯片八大环境测试详解与鸿怡老化座的核心价值

2025-12-02

发表了文章 2025-12-012025-12-01 12:23:03

芯片环境应力下的品质淬炼:芯片八大环境测试与芯片老化座的应用

高低温测试是最基础的环境应力测试，核心模拟芯片在极寒（如北方冬季）、酷热（如发动机舱）环境中的工作状态，重点验证芯片及封装的热疲劳抗性，暴露因热膨胀系数不匹配导...

ICsocketgirl 2025-12-012025-12-01 12:23:03

发表了视频 2025-11-272025-11-27 10:55:53

8分9秒

如何筑牢芯片品质防线:鸿怡芯片可靠性测试类型与芯片测试座应用

2025-11-27

发表了文章 2025-11-262025-11-26 11:20:21

如何筑牢芯片品质防线:芯片可靠性测试类型与芯片可靠性测试座应用-鸿怡IC测试插座工厂

从温度循环的应力冲击到静电放电的瞬时威胁，各类测试对测试载体的稳定性、适应性提出了严苛要求。鸿怡电子针对性研发的芯片可靠性测试座，以适配多场景的结构设计、稳定的...

ICsocketgirl 2025-11-262025-11-26 11:20:21

发表了视频 2025-11-252025-11-25 09:52:27

6分55秒

芯片测试控温稳触抗形变:高功率芯片测试座破解热胀冷缩难题-鸿怡芯片测试座工厂

2025-11-25

发表了视频 2025-11-202025-11-20 10:08:09

6分22秒

芯片极端环境下的测试良率守护:鸿怡电子车规芯片测试座破解车载测试难题

2025-11-20

发表了文章 2025-11-192025-11-19 11:38:56

芯片极端环境下的良率守护:鸿怡车规芯片测试座破解车载测试难题

车载环境测试作为车规芯片量产前的“终极考核”，测试良率的稳定性直接关系到芯片量产效率与整车安全。鸿怡电子深耕车规芯片测试领域，其定制化车规级芯片测试座以符合车规...

ICsocketgirl 2025-11-192025-11-19 11:38:56

发表了视频 2025-11-182025-11-18 10:01:54

6分25秒

芯片测试中的智能防呆筑屏障:鸿怡芯片测试座是如何破解手动测试损耗难题的？

2025-11-18

发表了文章 2025-11-172025-11-17 11:09:18

智能防呆筑屏障:鸿怡芯片测试座是如何破解手动测试损耗难题的？

要理解智能防呆设计的核心价值，首先需明确传统芯片测试座导致损耗的核心原因。手动测试依赖操作人员的经验与专注力，传统测试座仅提供基础的承载功能，缺乏对操作失误的预...

ICsocketgirl 2025-11-172025-11-17 11:09:17

发表了文章 2025-11-122025-11-12 12:03:50

鸿怡IC/芯片五大可靠性测试:HAST、HTOL、HTRB、H3TRB、HTGB测试老化板

芯片在实际应用中需面对高温、高湿、高压等极端工况（如车规芯片需耐受 150℃高温，工业芯片需抵抗 95% 高湿），而早期制造缺陷（如晶圆杂质、键合虚焊）可能在常...

ICsocketgirl 2025-11-122025-11-12 12:03:50

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