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用户11866768

LV0

发表了视频 22小时前2026-03-02 14:36:31

9分17秒

人工智能芯片/模块测试:谷易AI芯片/模块测试座socket的关键角色

2026-03-02

发表了文章 2026-01-282026-01-28 14:37:47

特殊传感器芯片测试:谷易异层高阶分层SMD3pin传感器芯片测试座socket

传感器芯片正朝着“更小体积、更多参数、更高集成”的方向迭代，谷易电子聚焦这类特殊结构传感器的测试痛点，以定制化SMD3pin芯片测试座socket为行业提供关键...

用户11866768 2026-01-282026-01-28 14:37:47

发表了文章 2026-01-212026-01-21 14:48:31

内存芯片测试:DDR4-LPDDR4/4X-LPDDR5/5X芯片测试夹具治具

三种内存芯片的技术参数差异的，决定了其应用领域的划分，这也是测试方案设计的基础前提。

用户11866768 2026-01-212026-01-21 14:48:31

发表了视频 2026-01-202026-01-20 10:40:55

8分57秒

Flash存储芯片测试:BGA200/FBGA48/TSOP48封装芯片测试座socket

2026-01-20

发表了文章 2026-01-192026-01-19 11:36:47

Flash存储芯片测试:BGA200/FBGA48/TSOP48封装芯片测试座socket

BGA200（球栅阵列封装）采用底部锡球阵列作为引脚，具备引脚密度高、信号传输路径短、散热性能优异等特点，能有效降低寄生参数，适配高频高速信号传输需求。在Fla...

用户11866768 2026-01-192026-01-19 11:36:47

发表了视频 2026-01-152026-01-15 11:21:30

7分55秒

通信芯片:蓝牙-无线-NB-IoT芯片测试-芯片测试座的适配

2026-01-15

发表了视频 2026-01-132026-01-13 10:04:08

8分30秒

存储器SRAM、DRAM、ROM、Flash芯片测试:检验方式与封装类型-谷易专业高效的芯片测试座

2026-01-13

发表了视频 2026-01-082026-01-08 10:55:48

8分48秒

芯片寿命的分级差异与测试体系:芯片可靠性老化测试座-谷易IC老练插座socket

2026-01-08

发表了视频 2026-01-062026-01-06 10:12:48

8分22秒

表面贴装电感特性-电感电容测试-谷易适配电感电容测试座

2026-01-06

发表了视频 2025-12-302025-12-30 10:14:54

9分0秒

电池充电IC特性及老化测试-充电IC如何适配IC老化测试座-谷易电池充电IC老练插座

2025-12-30

发表了文章 2025-12-292025-12-29 11:15:34

电池充电芯片测试:七种电池充电IC特性-谷易老化测试适配IC老化座

不同类型的电池在化学特性、充电机制、安全要求等方面存在显著差异，对应的充电IC也需具备针对性的功能设计。以下将逐一拆解七种电池充电IC的核心参数、适用场景及关键...

用户11866768 2025-12-292025-12-29 11:15:34

发表了视频 2025-12-232025-12-23 10:48:32

4分40秒

铁路信号控制中的模块测试及邮票孔模块190pin测试座应用-谷易信号控制模块测试

2025-12-23

发表了视频 2025-12-192025-12-19 10:55:41

8分55秒

车载MCU芯片测试核心支撑：QFP128pin芯片测试座适配车载场景

2025-12-19

发表了视频 2025-12-112025-12-11 10:56:24

6分38秒

氧化层与绝缘材料可靠性核心验证:芯片老化座赋能BTS测试精准实施-谷易IC老练插座

2025-12-11

发表了视频 2025-12-092025-12-09 10:27:09

5分42秒

芯片测试座与Pin脚的适配逻辑-LAYOUT封装图纸筑牢芯片测试根基-谷易

2025-12-09

发表了视频 2025-12-042025-12-04 10:55:02

7分45秒

IC测试四端测量的精准力量:开尔文测试座原理、优势与应用案例

2025-12-04

发表了文章 2025-12-032025-12-03 11:39:35

IC测试四端测量的精准力量:谷易开尔文测试座原理、优势与应用案例

开尔文测试座的本质是基于“开尔文连接”（Kelvin Connection）原理的测试载体，又称四端测量法，其核心创新在于将“电流传输”与“电压采集”功能分离，...

用户11866768 2025-12-032025-12-03 11:39:35

发表了视频 2025-12-022025-12-02 10:41:51

8分26秒

芯片特殊测试场景:射频RF、三温、烧录与芯片测试座的关联

2025-12-02

发表了文章 2025-12-012025-12-01 15:24:43

芯片特殊测试场景:射频RF、三温、烧录与德诺嘉芯片测试座的关联

射频RF测试是专门针对无线通信芯片（如5G、WiFi、蓝牙芯片）的核心测试，其核心目标是验证芯片在高频信号传输与接收过程中的性能指标，确保芯片在实际通信场景中信...

用户11866768 2025-12-012025-12-01 15:24:43

发表了视频 2025-11-272025-11-27 11:14:24

6分59秒

芯片编程烧录的核心支柱:IC烧录座工程师带您分解四大组成部分

2025-11-27

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