在半导体开发和生产过程中,半导体测试是必不可少的环节。随着电子产品功能的不断提高,对半导体质量的要求也越来越高。在研发,设计和生产过程中,只有准确测试半导体组件的各种参数,才能优化相应的设计方案,提高产品生产的成功率。因此,半导体检查变得非常重要。近年来,许多半导体制造商已将X-RAY技术应用于半导体测试并取得了良好的效果。
X射线检测原理
在半导体行业中,稳定的X射线系统工具用于集成电路封装内部连接的无损检查。当X射线穿透被测组件的组织结构时,由于被测组件的密度和厚度的差异,到达增强型屏幕(荧光屏)的X射线量也将不同,因此形成增强屏幕(荧光屏)。为了比较黑白图像,通过CCD和采集卡获取图像,然后通过软件图像处理,获得清晰的半导体组件检查图像,以观察是否存在缺陷。组件的内部结构。
X-RAY测试设备参数会影响半导体测试结果
一次性流延半导体芯片的成本高达数百万人民币,对半导体测试设备的参数进行任何细微调整都可能产生不同的结果。 X射线测试设备X射线测试设备AX9100,由国内专业的X射线测试设备制造商日联科技提供,是具有大工作台的大型X射线测试设备,可支持批量X射线无损准确检测;该设备具有分辨率为300W的高清平板探测器,彩色图像导航和更大的放大倍率,从而使被测组件的结构图像更清晰,更易于查看BGA虚拟焊接。
通常,为了提高半导体检查的水平并避免产品缺陷,X-RAY设备的应用是关键。目前,日联科技提供的X射线检测设备X-RAY检测设备AX9100已被许多半导体制造商采用,为半导体质量提供了可靠的质量保证。
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