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6.16 成都 | NI测试测量技术研讨会,诚邀报名参会

PART1

研讨会基本信息

NI测试测量技术研讨会再次起航,以AI+测试为主题,走遍全国多个城市,与全国各地朋友相聚,共同探讨AI+测试的落地,共赢智能测试的未来。

PART2

为什么参会?

聚焦“测试 + AI”前沿趋势,探讨 AI 如何真正赋能测试开发流程

深度解析 NI Nigel AI如何提升 LabVIEW 与 TestStand 的工作效率

分享 PXI 平台自动化测试方案,加速系统级测试构建

多个专题覆盖光电、高速 ADDA 等关键测试方向

前沿射频应用方案及案例

现场 Demo 参观与互动交流,直观了解方案应用场景

PART3

谁适合参加?

测试测量工程师、研发工程师

工程团队负责人,技术总监

院校及研究所研究人员

LabVIEW爱好者,开发者

成都站

基本信息

活动时间

2026年6月16日(星期二)

14:00-17:25(12:30开始签到)

活动地点

成都新希望皇冠假日酒店,蜀榕厅

(地址:成都市郫都区高新西区西芯大道1号)

码上报名

NI测试测量技术研讨会成都站

研讨会日程

实机展示

NI NigelTMAI助手体验

多通道多信号类型数据采集与分析框架

通过配置快速完成PXI自动化测试任务

6G AI 通信开发平台

全新软件定义无线电产品X420

大数据量射频信号高速录制回放系统

基于 JESD204B 协议的高速ADC测试方案

DIGILENT工程教学实验测量平台

  • 发表于:
  • 原文链接https://page.om.qq.com/page/OZgRkiG4LqkFeO6Fxt2JbXFg0
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