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浙江创芯集成电路申请半导体结构及其形成方法专利,有利于保障半导体结构的工作效率

国家知识产权局信息显示,浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“半导体结构及其形成方法”的专利,公开号CN 120614822 A,申请日期为2025年06月。

专利摘要显示,一种半导体结构及其形成方法,结构包括:基底,包括存储单元区,存储单元区沿第一方向延伸;分栅结构,位于存储单元区的基底上,分栅结构包括控制栅结构、以及沿第一方向分别位于控制栅结构两侧的浮栅结构,浮栅结构与控制栅结构的接触面为多级台阶状的形貌;擦除栅结构,覆盖于分栅结构顶部。

天眼查资料显示,浙江创芯集成电路有限公司,成立于2020年,位于杭州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本182000万人民币。通过天眼查大数据分析,浙江创芯集成电路有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目257次,财产线索方面有商标信息14条,专利信息402条,此外企业还拥有行政许可7个。

声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。

来源:市场资讯

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  • 原文链接https://page.om.qq.com/page/OMr1i21ZYRdtueI_dj2qn-1A0
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