集微网消息(文/杨媛)近日,广立微在接受机构调研时称,为满足6吋、8吋以及部分12吋晶圆厂对设备性价比的需求,2022年度我们开始进行通用型机台T4000机型的优化升级,预计将于今年下半年正式推向市场。
在晶圆级电性测试设备方面,广立微的WAT测试机已经投入市场实现成熟应用并实现了高速增长的营收效益,特别是公司的高效并行WAT测试机型,已经广泛应用于国内多家12吋晶圆厂及部分设计公司。同时,面向晶圆级可靠性测试领域,公司扩展研发了晶圆级可靠性测试(WLR)设备,现已实现关键功能开发,扩充了公司电性测试设备产品线。2023年T4000机型及可靠性测试设备均将投入市场Demo验证应用和推广,助力业务持续增长。
在半导体数据软件方面,2023年4月28日,广立微在上海举行Semitronix DATAEXP User Forum,聚焦半导体大数据分析难点,分享DATAEXP大数据分析平台的新发展,发布了全线升级的良率分析管理、缺陷分析管理、通用数据分析管理等多款软件,获得了参与技术论坛的客户认可。
据了解,广立微是领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商,公司专注于芯片成品率提升和电性测试快速监控技术,是国内外多家大型集成电路制造与设计企业的重要合作伙伴。公司现已形成EDA设计软件、WAT测试设备及半导体数据分析工具相结合的成品率提升全流程解决方案,在集成电路从设计到量产的整个产品周期内实现芯片性能、成品率、稳定性的提升。
(校对/黄仁贵)
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