一文带你了解RF射频芯片行业应用以及测试重点-欣同达

射频芯片的主要测试指标包括驻波、插入损失、中心频率、带宽、带内波动、带外抑制、群延迟等。

测试的难点是：

1）测试装置越来越小，测试频率越来越高，许多装置尺寸小于1mm，测试频率大于40GHZ；

2）测量精度要求高，板卡研发难度大。

S11是指回波损耗，即反射回源端（Port1）的能量。值越小越好。一般建议S110.1，即120db。S21表示插入损耗或正传输系数，即有多少能量传输到目的端（Port2）。值越大越好。理想值为1，即0db。S11越大，信号传输损耗越低，传输效率越高。

随着通信技术的变化和新应用领域的出现，射频前端芯片的复杂性不断提高。目前，随着5g和WIFI6高速通信标准的升级，新的射频芯片广泛应用于手机、平板电脑、通信基站等通信平台。目前，射频芯片测试对射频测试座的需求越来越高，主要是因为在极端环境下，芯片将采用老化测试、功能测试和特殊测试，这也对射频芯片测试座提出了更高的测试要求。

深圳市欣同达科技有限公司成立于2016年,是集研发.生产.销售为一体的高新技术企业。专注研发生产:芯片测试座,老化座,ATE测试座,烧录座,客制化Socket,开尔文测试座,ic测试架。适用于：BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA.等封装测试插座 。