芯片高频测试屏蔽抗扰和快速适配-谷易电子高频芯片测试座应用

信号串绕是高频芯片测试中的典型痛点—相邻引脚的高频信号相互干扰，易导致测试数据失真；而多封装形态的高频芯片，又让传统测试座面临适配周期长、切换效率低的困境。谷易电子针对性研发的高频芯片测试座，以模块化适配设计缩减切换时间，靠精密屏蔽结构实现信号0失真，成为破解高频芯片测试难题的核心装备。