忍耐一下,接下来的文章很精彩!
数字输入 / 输出特性。用于评估与 MCU 或 FPGA 连接时的电平兼容性、电流驱动能力等:
参数 | 说明 | 条件 | 最小 | 典型 | 最大 | 单位 | 解读说明 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
VIH | 高电平输入阈值 | - | 0.8×OVDD | - | - | V | 数字输入 > 80% OVDD 被识别为高 |
VIL | 低电平输入阈值 | - | - | - | 0.2×OVDD | V | < 20% OVDD 为低 |
IIN | 输入漏电流 | VIN: 0V–OVDD | -10 | - | 10 | µA | 非常小,便于与任意逻辑兼容 |
CIN | 输入电容 | - | - | 5 | - | pF | 对高速信号有微弱负载影响 |
VOH | 高电平输出 | IO = –0.5 mA | OVDD – 0.2 | - | - | V | 输出逻辑高拉至接近 OVDD |
VOL | 低电平输出 | IO = 0.5 mA | - | - | 0.2 | V | 输出低电平接近 0V |
IOZ | 高阻输出漏电流 | 三态时 | –10 | - | 10 | µA | 用于 SPI 三态输出检测 |
ISOURCE | 拉电流能力 | 输出高电平时 | -10 | - | - | mA | 最大拉电流 10 mA(源) |
ISINK | 灌电流能力 | 输出低电平时 | - | - | 10 | mA | 最大灌电流 10 mA |
SPI 通信可与 1.8V、3.3V、5V 系统兼容,只要 OVDD 对应即可;SDOA / SDOB 输出引脚可直接驱动 10mA 接收器,如 FPGA 输入;电平逻辑与 CMOS/TTL 器件兼容。
POWER REQUIREMENTS
电源供电要求
参数 | 说明 | 条件 | 最小 | 典型 | 最大 | 单位 | 解读说明 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
VDD | 模拟核心供电 | - | 2.375 | 2.5 | 2.625 | V | 需要稳定的 2.5V LDO 供电 |
OVDD | 数字 IO 电源 | - | 1.71 | - | 5.25 | V | 灵活性高,可兼容 1.8V~5V 系统 |
IVDD | 模拟电流 | 1Msps 采样率 | - | 9.5 | 14 | mA | 模拟前端供电消耗 |
IOVDD | 数字电流 | 1Msps,CL=20pF | - | 1 | - | mA | IO 部分驱动消耗 |
IPD | 关断电流 | 采样完成后 | 6 | - | 350 | µA | Sleep 状态下电流 |
PD | 功耗 | 全速采样时 | - | 24 | 35 | mW | 总功耗(模拟+数字) |
Power-down 模式 | - | 15 | 875 | µW | 非常适合低功耗采样策略(如间歇式) |
满速采样(1Msps)时最大功耗约 35mW,非常适合便携高精度系统;若启用断电机制(Power Down),功耗可低至数十微瓦;OVDD 灵活,适合多种接口逻辑电平兼容。
ADC有两部分的供电:
电源通道 | 名称 | 电压 | 主要作用 | 供电要求 |
---|---|---|---|---|
VDD | 模拟核心电源 | 2.5 V | 供给 ADC 内部模拟电路(采样保持、基准放大器) | 必须极低噪声、稳定、无纹波 |
OVDD | 数字 IO 电源 | 1.8 V / 3.3 V / 5.0 V | 供给 SPI、BUSY、SDO、SDI 等数字接口 | 与主控 MCU/FPGA 逻辑电平匹配 |
可以用这个
也可以共模
+5V 系统电源输入(电池/USB/Vin/DC-DC)
│
┌────────┴────────┐
│ │
精密 LDO 低噪声 LDO / LDO输出
(VDD供电) (OVDD供电)
输出 2.5V 输出 3.3V
10µV RMS 低噪声 与 MCU / FPGA 电平匹配
│ │
┌────▼────┐ ┌────▼────┐
│ LTC2500 │ │ 主控芯片 │
└─────────┘ └─────────┘
LTC2500 的 VDD 电源必须干净、专线布线、远离开关干扰;REF 和 VDD 电源建议共用同一低噪声 LDO;GND 接地必须单点汇流,避免数字和模拟回流混合;推荐使用分区地 + π 型滤波器(L-C-L)对供电电源进一步清洁;若系统中有开关电源(如 Buck),务必远离 ADC 区域,并前加 LDO 滤波。
项目 | 电流消耗(典型) | LDO 电流能力 |
---|---|---|
VDD | 9.5 mA | ≥ 50 mA,留裕量 |
OVDD | 1 mA(正常 IO) | ≥ 20 mA |
一路是给ADC的模拟部分的,要低噪音,还有就是数字部分,没有那么挑剔。
模块 | 推荐器件 | 特性 | 用途 |
---|---|---|---|
LDO1 | LT3042 / ADM7150 | 极低噪声 | LTC2500 VDD & REF |
LDO2 | LP5907 / MIC5365 | 逻辑兼容 | LTC2500 OVDD |
上游电源 | 5V DC 或锂电池 / Buck 转换 | 输入电压 | 系统主电源供给 |
这个也可以
继续看:
包含采样速率、时钟要求、数据输出时序等关键指标。
符号 | 参数 | 典型值 | 单位 | 说明 |
---|---|---|---|---|
fSMPL | 最大采样频率 | 1 | Msps | 最高支持 1Msps 的主时钟采样速率(MCLK) |
fDRA | SDOA 输出数据率 | 250 | ksps | 受滤波器影响(DF 大时更慢) |
fDRB | SDOB 输出数据率 | 1 | Msps | SDOB 每次采样都输出,匹配采样频率 |
tCONV | 转换时间 | 600–660 | ns | MCLK 上升沿后多久转换完成 |
tCYC | 两次采样之间最短时间 | 1000 | ns | 限制最小周期 = 1Msps |
tACQ | 获取时间(采样保持) | ≥ 327 | ns | 由公式推导:t_ACQ = t_CYC - t_CONV - t_BUSYLH |
tBUSYLH | MCLK↑ 到 BUSY↑ 的延迟 | 13 | ns | 可用于同步判断是否完成采样 |
参数 | 值 | 单位 | 说明 |
---|---|---|---|
tMCLKH | 高电平时间 | ≥ 20 | ns |
tMCLKL | 低电平时间 | ≥ 20 | ns |
说明 MCLK 的最大频率约为:
但因为转换过程与采样时序是独立的,MCLK 上升沿只是触发事件,内部定时独立于 MCLK 频率。
参数 | 值 | 单位 | 说明 |
---|---|---|---|
tSCKA | SPI SCKA 周期 | ≥ 10 | ns |
tSCKAH | SCK 高电平 | ≥ 4 | ns |
tSCKAL | SCK 低电平 | ≥ 4 | ns |
tSSDISCKA | SDI 数据 Setup 时间 | ≥ 4 | ns |
tHSDISCKA | SDI 数据 Hold 时间 | ≥ 1 | ns |
tDSDOA | SDOA 数据有效延迟 | 8.5 / 8.5 / 9.5 | ns |
SPI时序
与 STM32 SPI 模式 0 兼容;SCK ↑ 采样,MSB 优先
第二段
符号 | 参数说明 | 条件 | 最小 | 单位 | 说明 |
---|---|---|---|---|---|
tHSDOA | SDOA 数据保持时间从 SCKA↑ 起 | CL=20pF | 1 | ns | SPI 主控采样 SDOA 最晚时间 |
tDSDOADRL | DRL 下降延迟后 SDOA 数据有效延迟 | - | 5 | ns | 表明何时可以读取滤波数据 |
tENA | RDL\ 下降到总线启用时间 | - | 16 | ns | 用于并行片选时控制时序 |
tDISA | RDL\ 上升到总线释放时间 | - | 13 | ns | SPI 总线释放(CS 取消)时需要保持 |
tSCKB | SDOB 的 SPI 时钟周期 | - | 10 | ns | SPI 时钟周期 ≥10ns,即最大 100 MHz |
tSCKBH | SDOB SCKB 高电平时间 | - | 4 | ns | |
tSCKBL | SDOB SCKB 低电平时间 | - | 4 | ns |
符号 | 参数说明 | 条件 | 值 | 单位 | 说明 |
---|---|---|---|---|---|
tDSDOB | SCKB↑ 后 SDOB 输出有效延迟 | OVDD = 5.25V / 2.5V / 1.71V | 8.5 / 8.5 / 9.5 | ns | 电压越低,驱动速度越慢(延迟更长) |
tHSDOB | SDOB 数据保持时间 | CL=20pF | 1 | ns | SPI 控制器读取时需保持至少 1ns |
tDSDOBBUSY | BUSY↓ 后 SDOB 输出数据有效 | - | 5 | ns | BUSY 信号可用于触发读取操作 |
这些用于控制多片 ADC 共享 SPI 总线(RDLA/RDLB 即 SPI 片选脚)
参数 | 说明 | 最小值 | 单位 |
---|---|---|---|
tENA | RDL↓ 到总线可驱动时间 | 16 | ns |
tDISA | RDL↑ 到释放总线时间 | 13 | ns |
作用:避免多片 LTC2500 同时驱动总线导致冲突。
Note 编号 | 内容摘要 |
---|---|
Note 4 | 典型条件:VDD=2.5V,OVDD=2.5V,VREF=5V,fSMPL=1 MHz |
Note 8 | 积分非线性(INL)定义为从量化中心线测量的最大偏差 |
Note 9 | Bipolar 零点误差 = 输出在 ±0.5LSB 附近跳动;满量程误差 = ±FS 情况下偏差最大值 |
Note 10 | 所有 dB 指标参考 ±5V 差分输入 |
Note 11 | 采样速率提高 → IREF 电流线性增加 |
Note 12 | 某些时序值为设计保证,不是批量测试 |
Note 13 | 总线片选相关参数只在 OVDD = 2.5V & 5.25V 测试 |
Note 14 | tSCKA/tSCKB 最小 10ns,可支持 100MHz SPI |
图中解释了:
输入电平:逻辑高 ≥ 0.8×OVDD,逻辑低 ≤ 0.2×OVDD;时序测量点(50% 电平);tDELAY、tWIDTH、tSETUP、tHOLD 等为标准数字时序定义。