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交错式 ADC(Interleaved ADC)技术

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云深无际
发布2025-05-25 14:21:41
发布2025-05-25 14:21:41
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文章被收录于专栏:云深之无迹云深之无迹

这个交错技术早有耳闻,示波器里面用多,最近两天闲鱼看到一个示波器:

是SDS1072X HD
是SDS1072X HD

是SDS1072X HD

这个闲鱼2200吧,样子很酷(我好喜欢鼎阳的UI),但是死活找不到原产品是啥,问客服说是以前的旧版本,难说,样子倒是很好看,就是这个采样率说有点尿的,不知道了。

这对吗???
这对吗???

这对吗???

算了,不知道了,有知道的朋友可以解读下。

这个交错是之前的超声波小设备里面的,探头的中心频率是5Mhz,使用一个MCU来采集:

全球第一
全球第一

全球第一

我发现只有MC家这样做了。

器件系列

可交错 ADC 数量

最快等效采样率(12-bit)

TAD

PIC32MZ

最多 4 个

12.5 Msps

20 ns (50 MHz)

PIC32MK GP

最多 5 个

15 Msps

16.67 ns (60 MHz)

PIC32MK MC

最多 6 个

20 Msps

16.67 ns (60 MHz)

ADC 模块结构

来了!铁子
来了!铁子

来了!铁子

每个 ADCx 独立:具备独立的采样时间控制(ADCxTIME<SAMC>);模拟输入可以通过 ADCTRGMODE<SHxALT> 选择其他引脚;每个 ADC 支持 DMA;所有交错触发必须由统一的时钟源控制,例如 TMR3、PTMR。

不上DMA疯了?
不上DMA疯了?

不上DMA疯了?

交错触发公式

最小触发间隔:

其中:

3TAD 是最小采样时间;

Resolution 为 ADC 分辨率位数;

ADJ 为校准因子(0~4);

N 为交错通道数。

触发周期必须为 TAD 的整数或0.5TAD 倍数。

效采样率计算:
  1. 配置 ADC 时钟源为 SYSCLK;
  2. 启用 ADC 前必须等待 BANDGAP ready + Warm-up 时间(512 TAD);
  3. 必须先初始化 ADC,再激活触发源;
  4. DMA 模式需配合 SYSCLK;
  5. 每个交错组必须使用统一定时器(不能跨多个 TMR);

误解:交错间隔设置为 3TAD 就能获得最快速率

实际上,转换过程中 ADC 忙于转换,后续触发不会立即被处理。必须满足:

触发间隔采样转换

否则会造成相位错乱、杂散增加和采样率波动。


配置与结果

示例

配置

达成采样率

PIC32MZ + 4 ADC

12-bit, ADJ=0, TAD=20ns

12.5 Msps

PIC32MK + 5 ADC

12-bit, ADJ=4, TAD=16.67ns

15 Msps

PIC32MK + 6 ADC

12-bit, ADJ=2, TAD=16.67ns

20 Msps

总的来说,挺骚的
总的来说,挺骚的

总的来说,挺骚的

文章这里正经开始。

交错式 ADC 是通过将多个采样率为 fS 的 ADC 以时钟相位错开的方式同时采样同一模拟输入,从而合成更高的等效采样率

多个 ADC 通道(每个采样率为 fS)以等间隔交替采样同一个输入信号,形成一个等效采样率为 m × f<sub>S</sub> 的复合输出。

时钟要求:每个 ADC 通道采样时钟必须具有确定的相位差。若有 m 个通道,每个通道的时钟相位差为:

比如使用两个 100 MSPS 的 ADC,以 180° 相位错开,整体系统等效采样率变为 200 MSPS

通常利用 m 个 ADC,可实现 m × fS 的总采样率。

交错实现方式

每个 ADC 接受带相位偏移的时钟;以周期性交替方式对输入信号采样,所有 ADC 的输出组合后,即为一个等效的高采样率数据流。

时钟结构,因为时钟就是采样的信号(可以这样粗略的理解)
时钟结构,因为时钟就是采样的信号(可以这样粗略的理解)

时钟结构,因为时钟就是采样的信号(可以这样粗略的理解)

交错的结构
交错的结构

交错的结构


交错式 ADC 的优势是频带宽度提升:

增加等效采样率后,奈奎斯特频率也随之翻倍(从 fS/2 变为 m×fS/2),例如两个 100 MSPS 交错后,奈奎斯特带宽从 50 MHz 提升至 100 MHz。

交错 ADC 的挑战 —— 核心问题是通道间不匹配

四种主要不匹配类型

类型

表现

频谱中引起的杂散分量

原因

位置频率

失调不匹配

DC 偏移不同

fS/2

每个 ADC 自身的 DC 偏移不同

固定 fS/2

增益不匹配

幅度响应不同

fS/2 ± fIN

两个 ADC 增益不一致

与输入频率有关

时序不匹配

采样时刻不一致

fS/2 ± fIN

时钟相位或孔径延迟偏差

与 fIN 成函数

频宽不匹配

幅频响应不同

fS/2 ± fIN

通道带宽差异引起延迟不同

频率相关增益/相位差

杂散信号的识别方法

失调造成的杂散在 fS/2,易识别;增益/时序/频宽不匹配都会在 fS/2 ± fIN 处出现,难以区分。

  1. 失调补偿:选定一通道为基准,将其他通道校准至相同 DC 偏移。
  2. 增益匹配:对所有 ADC 执行校准,统一放大系数。
  3. 时序匹配:减小时钟偏斜与孔径抖动。保证时钟相位精准控制。
  4. 频宽匹配:优化 PCB layout、走线对称。各通道采用匹配电路或滤波器。

交错 ADC 技术能显著扩展系统采样率与带宽,尤其适合当前 ADC 技术进展跟不上系统带宽需求的场景,但必须小心应对 通道不匹配导致的杂散干扰问题。否则虽然提高了采样速率,但却引入了不可忽视的失真与噪声,反而影响系统性能。

FFT
FFT

FFT

上图展示了两个交错 ADC 存在以下不匹配时对输出频谱的影响:

失调不匹配adc0 加了轻微 DC 偏移(+0.01),会在 f_s/2 = 100 MHz 附近引入杂散。

增益不匹配adc1 的增益被人为放大为 1.05

时序不匹配adc1 的采样相位有轻微偏移(相位偏移约 0.05 rad)。

在频谱中可以观察到主信号(20 MHz)旁边出现的杂散分量,特别是 fs/2 ± fin = 80 MHz120 MHz(图里面没有呈现) 附近的杂散,这些正是交错 ADC 中典型的不匹配效应。

这块确实难,仿真出来的都不对,放个正确的:

时域的图,和上面的一样
时域的图,和上面的一样

时域的图,和上面的一样

黑色线条:为最终输出的交错信号,表现为“等效高采样率”的波形。

红色圆点:来自 ADC0 的采样点。

蓝色圆点:来自 ADC1 的采样点。

交替出现的采样点反映了两路 ADC 轮流工作,构成 2 倍原始采样率的结构;ADC0 和 ADC1 的采样时间分别错开半周期(180°相位差),完美拼接。另外此图也揭示了失调(红点略高)和增益 + 相位偏移(蓝点更高 + 向右偏)所带来的视觉差异(这些失调画出来都不对)。

可以看看这个
可以看看这个

可以看看这个

上图 – 时域采样结构,不说了

下图 – 频谱图

展示当前交错信号的频谱;可以清楚看到随着不匹配增大,fs/2fs/2 ± f_in 处杂散明显上升。

一张分类的ADC图
一张分类的ADC图

一张分类的ADC图

另外按照采样定理的原理可以分为两种:

  1. 奈奎斯特采样ADC:采样率=2信号最高频率;
  2. 过采样ADC:采样率>2信号最高频率。

以后拿到ADC可以简单的分类看看。

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https://www.analog.com/cn/resources/technical-articles/the-abcs-of-interleaved-adcs.html
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原始发表:2025-05-24,如有侵权请联系 cloudcommunity@tencent.com 删除

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