这个交错技术早有耳闻,示波器里面用多,最近两天闲鱼看到一个示波器:

是SDS1072X HD
这个闲鱼2200吧,样子很酷(我好喜欢鼎阳的UI),但是死活找不到原产品是啥,问客服说是以前的旧版本,难说,样子倒是很好看,就是这个采样率说有点尿的,不知道了。

这对吗???
算了,不知道了,有知道的朋友可以解读下。
这个交错是之前的超声波小设备里面的,探头的中心频率是5Mhz,使用一个MCU来采集:

全球第一
我发现只有MC家这样做了。
器件系列 | 可交错 ADC 数量 | 最快等效采样率(12-bit) | TAD |
|---|---|---|---|
PIC32MZ | 最多 4 个 | 12.5 Msps | 20 ns (50 MHz) |
PIC32MK GP | 最多 5 个 | 15 Msps | 16.67 ns (60 MHz) |
PIC32MK MC | 最多 6 个 | 20 Msps | 16.67 ns (60 MHz) |

来了!铁子
每个 ADCx 独立:具备独立的采样时间控制(ADCxTIME<SAMC>);模拟输入可以通过 ADCTRGMODE<SHxALT> 选择其他引脚;每个 ADC 支持 DMA;所有交错触发必须由统一的时钟源控制,例如 TMR3、PTMR。

不上DMA疯了?
其中:
3TAD 是最小采样时间;
Resolution 为 ADC 分辨率位数;
ADJ 为校准因子(0~4);
N 为交错通道数。
触发周期必须为 TAD 的整数或0.5TAD 倍数。
误解:交错间隔设置为 3TAD 就能获得最快速率
实际上,转换过程中 ADC 忙于转换,后续触发不会立即被处理。必须满足:
触发间隔采样转换
否则会造成相位错乱、杂散增加和采样率波动。
示例 | 配置 | 达成采样率 |
|---|---|---|
PIC32MZ + 4 ADC | 12-bit, ADJ=0, TAD=20ns | 12.5 Msps |
PIC32MK + 5 ADC | 12-bit, ADJ=4, TAD=16.67ns | 15 Msps |
PIC32MK + 6 ADC | 12-bit, ADJ=2, TAD=16.67ns | 20 Msps |

总的来说,挺骚的
文章这里正经开始。
交错式 ADC 是通过将多个采样率为 fS 的 ADC 以时钟相位错开的方式同时采样同一模拟输入,从而合成更高的等效采样率。
多个 ADC 通道(每个采样率为 fS)以等间隔交替采样同一个输入信号,形成一个等效采样率为 m × f<sub>S</sub> 的复合输出。
时钟要求:每个 ADC 通道采样时钟必须具有确定的相位差。若有 m 个通道,每个通道的时钟相位差为:
比如使用两个 100 MSPS 的 ADC,以 180° 相位错开,整体系统等效采样率变为 200 MSPS。
通常利用 m 个 ADC,可实现 m × fS 的总采样率。
每个 ADC 接受带相位偏移的时钟;以周期性交替方式对输入信号采样,所有 ADC 的输出组合后,即为一个等效的高采样率数据流。

时钟结构,因为时钟就是采样的信号(可以这样粗略的理解)

交错的结构
交错式 ADC 的优势是频带宽度提升:
增加等效采样率后,奈奎斯特频率也随之翻倍(从 fS/2 变为 m×fS/2),例如两个 100 MSPS 交错后,奈奎斯特带宽从 50 MHz 提升至 100 MHz。
类型 | 表现 | 频谱中引起的杂散分量 | 原因 | 位置频率 |
|---|---|---|---|---|
失调不匹配 | DC 偏移不同 | fS/2 | 每个 ADC 自身的 DC 偏移不同 | 固定 fS/2 |
增益不匹配 | 幅度响应不同 | fS/2 ± fIN | 两个 ADC 增益不一致 | 与输入频率有关 |
时序不匹配 | 采样时刻不一致 | fS/2 ± fIN | 时钟相位或孔径延迟偏差 | 与 fIN 成函数 |
频宽不匹配 | 幅频响应不同 | fS/2 ± fIN | 通道带宽差异引起延迟不同 | 频率相关增益/相位差 |
失调造成的杂散在 fS/2,易识别;增益/时序/频宽不匹配都会在 fS/2 ± fIN 处出现,难以区分。
交错 ADC 技术能显著扩展系统采样率与带宽,尤其适合当前 ADC 技术进展跟不上系统带宽需求的场景,但必须小心应对 通道不匹配导致的杂散干扰问题。否则虽然提高了采样速率,但却引入了不可忽视的失真与噪声,反而影响系统性能。

FFT
上图展示了两个交错 ADC 存在以下不匹配时对输出频谱的影响:
失调不匹配:adc0 加了轻微 DC 偏移(+0.01),会在 f_s/2 = 100 MHz 附近引入杂散。
增益不匹配:adc1 的增益被人为放大为 1.05。
时序不匹配:adc1 的采样相位有轻微偏移(相位偏移约 0.05 rad)。
在频谱中可以观察到主信号(20 MHz)旁边出现的杂散分量,特别是 fs/2 ± fin = 80 MHz 与 120 MHz(图里面没有呈现) 附近的杂散,这些正是交错 ADC 中典型的不匹配效应。
这块确实难,仿真出来的都不对,放个正确的:

时域的图,和上面的一样
黑色线条:为最终输出的交错信号,表现为“等效高采样率”的波形。
红色圆点:来自 ADC0 的采样点。
蓝色圆点:来自 ADC1 的采样点。
交替出现的采样点反映了两路 ADC 轮流工作,构成 2 倍原始采样率的结构;ADC0 和 ADC1 的采样时间分别错开半周期(180°相位差),完美拼接。另外此图也揭示了失调(红点略高)和增益 + 相位偏移(蓝点更高 + 向右偏)所带来的视觉差异(这些失调画出来都不对)。

可以看看这个
上图 – 时域采样结构,不说了
下图 – 频谱图
展示当前交错信号的频谱;可以清楚看到随着不匹配增大,fs/2 及 fs/2 ± f_in 处杂散明显上升。

一张分类的ADC图
另外按照采样定理的原理可以分为两种:
以后拿到ADC可以简单的分类看看。
https://www.analog.com/cn/resources/technical-articles/the-abcs-of-interleaved-adcs.html